专利编号：
PMXL-159
专利证号：
专利名称：
一种测量微位移的装置
专利类别：
其它
专利持有人：
联系方式：
13353082008 联系人：李先生
浏览次数：
1394
状态：
还未卖出
专利介绍：
本实用新型涉及一种微位移测量装置，该装置由两片分别刻有许多矩形缝隙的不透光薄片相互平行放置而成，其中一不透光薄片A固定在光电池表面，光电池连接电压测量仪表或处理信号的计算机接口，另一不透光薄片B在照射光源与不透光薄片A之间，固定在被测物体的转轴上，整个装置均在暗盒内。当物体位移发生微小变化时，引起光电池输出电压变化，通过电压测量仪表测量或计算机作数据处理得微位移变化量。本装置体积小，测量精度高。